2019年11月28-30日，我校主办的第二届国际光电子与测量会议顺利召开，来自光学、光电子材料与器件与测量技术与计量领域的近百名专家学者参加了本次会议。会议由中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州大学、中国计量科学研究院和中国科学院宁波材料技术与工程研究所协办，会议由光电学院彭应全教授主持。

副校长俞晓平教授出席会议并致欢迎词，他对参加本次会议的人员表示热烈欢迎，并分享了我校在光电子器件及测量领域的发展趋势和取得的最新成果。希望与会专家们的真知灼见，能交汇出新的智慧之花，共同推动光电子与测量领域更好的发展。

会议将围绕“光电测量标准与仪器、光纤传感、发光器件与材料、光探测与材料、太阳能电池与电站、钙钛材料与光电器件、二维材料与光电器件、先进激光器与材料等议题”等专题开展深入研讨。会议有幸邀请到国际著名有机光电子学专家韩国首尔国立大学Jang-Joo Kim教授做了题为“What is the efficiency limit of OLED”的大会报告,参会的学者还包括多名国家杰青、国务院政府特殊津贴等知名专家学者。

本次会议同时也吸引了我校大量青年学者积极参加各个主题研讨，开阔了他们的视野，提升了我校在国际光电子与测量领域的学术影响力。